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      DUORES手持式面電阻測試儀 / UltraMap C200L全自動硅片分選系統(tǒng)

      DUORES手持式面電阻測試儀 / UltraMap C200L全自動硅片分選系統(tǒng)

      C200L全自動硅片分選系統(tǒng)

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      C200L全自動硅片分選系統(tǒng)

      DUORES手持式面電阻測試儀

      設(shè)計精密,靈巧,便捷,將四探針及渦電流兩種技術(shù)集成在一臺設(shè)備上進行使用。 可替換手持式探頭支持兩種測

      試方式

      (1)非接觸式探頭(渦電流測試法)

      (2)接觸式探頭(四探針測試法)

      探頭觸碰到樣品時就會自動開始測量可以長達24小時的測量,時間最多顯示100組測量數(shù)據(jù),最多儲存50,000組測試數(shù)據(jù)可通過USB-MINI將測量數(shù)據(jù)導(dǎo)出測量數(shù)據(jù)顯示4位數(shù)的浮動小數(shù)點測試結(jié)果單位:Ω/sq,s/sq,n/m 

      產(chǎn)品規(guī)格:可測量任意尺寸和形狀的樣品 (必須大于測量探頭的覆蓋范圍) <測量探頭覆蓋范圍> 非接觸式探頭(渦電流法)?:?φ25mm 接觸式探頭(4探針法)?:?3mm 測量范圍非接觸式探頭(渦電流法)?:?0.5?- 200?Ω/sq 接觸式探頭(4探針法)?:?0.001?-?4000?Ω/sq

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